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      高濃度納米粒度儀及zeta電位分析儀

      簡要描述:Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
      Zeta-ASP是高濃度膠體和乳液的特性參數檢測儀,可以測試:粒徑、Zeta電位、滴定、電導等。
      此儀器容易使用、測量精確。對于高達60%(體積)濃度的樣品,也無需進行稀釋或樣品前處理,即可直接測量甚至對于漿糊凝膠、水泥以及用其它儀器很難測量的材料都可直接進行測量。

      • 產品型號:ZetaAPS型
      • 廠商性質:生產廠家
      • 更新時間:2021-08-19
      • 訪  問  量:2375

      詳細介紹

      品牌其他品牌價格區間面議
      產地類別進口應用領域醫療衛生,化工,石油,制藥

      Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

      典型應用:

      綜合穩定水泥漿,陶瓷,化學機械研磨,煤漿,涂料,化妝品,環境保護禪選法礦物富集,食品工業,乳膠,微乳,混合分散體系,納米粉,無水體系,油漆成像材料。

      主要特點:

      1)能分析多種分散物的混合體;

      2)無需依賴Double Layer模式,精確地判定等電點;

      3)可適用于高導電(highly conducting)體系;

      4)可排除雜質及對樣品污染的干擾;

      5)可精確測量無水體系;

      6)Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術,無需先測量粒度即可進行電位測量;

      7)樣品的高濃度可達60%(體積比),被測樣品無需稀釋,對濃縮膠體和乳膠可進行直接測量;

      8)具有自動電位滴定功能;

      優于光學方法的技術優勢:

      1)被測樣品無需稀釋;

      2)排除雜質及對樣品污染的干擾;

      3)不需定標;

      4)能分析多種分散物的混合體;

      5)高精度;

      6)所檢側粒徑范圍款從5 nm至1000um

      Zeta-APS 高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀

      優于electroactics方法的技術優勢:

      1)無需定標;

      2)能測更寬的粒徑范圍;

      3)無需依賴Double Layer模式

      4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲;

      5)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

      6)可適用于無水體系;

      7)可適用于高導電(highly conducting)體系;

      優于微電泳方法的技術優勢:

      1)無需稀釋,固合量高達60%;

      2)可排除雜質及對樣品污染的干擾;

      3)高精度(±0.1mv);

      4)低表面電荷(可低至0. 1mv);

      5)electrosmotic flow不影響測量;

      6)對流(convection)不影響測量;

      7)可精確測量無水體系;

      技術參數:

      1)所檢測粒徑范圍寬:從5 nm至1000um;

      2)可測量參數:粒度分布、固含量、Zeta電位、等電點IEP、E5A、電導率、PH、溫度、聲衰減;

      3)Zeta電位測量范圍:+/-200 mv,低表面電荷(可低至0. 1mv),高精度(±0.1mv);

      4)零表面電荷條件下也可測量粒徑;

      5)允許樣品濃度:0.1-60%(體積百分數);

      6)樣品體積:30-230ml;

      7)PH范圍:0~14;

      8)電導率范圍:0~10 s/m

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